标准详情
- 标准名称：微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
- 标准编号：GB/T 43748-2024
- 替代标准号：
- 标准类别：
- 文件格式：.pdf
- 文件大小：2.83 MB
- 文件页数：15 页
- 发布日期：2024-03-15
- 实施日期：2024-10-01
- 中国标准分类号：N 33
- 国际标准分类号： 71.040.40
- 技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
- 批准发布部门：
GB/T 43748-2024 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法.pdf
推荐性
现行 分享时间: 2026-07-14 10:00:36
微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法标准截图：
资源简介
说明：该文件由网友投稿分享,GB/T 43748-2024 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法.pdf是2024-03-15发布的，实施时间是：2024-10-01,文件大小:2.83 MB。 仅限于学习使用！
起草单位
起草人
相关文件
- GB/T 43791-2024 国际贸易业务流程规范 数据管道载体 数据交换架构
- GB/T 43748-2024 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法
- XF 942-2011 网栅隔断式烟热训练室技术要求
- GB/T 24260-2020 石油地震检波器
- GB/T 44033-2024 铁矿尾矿利用率计算方法
- DB52/T 1776.3-2023 贵州省耕地质量等别评价 第3部分：制图规范
- HJ/T 390-2007 环境保护产品技术要求 汽油车燃油蒸发污染物控制系统（装置）
- CB/T 4561-2025 J类船用筒形观察器
- HJ722-2014 环境数据集说明文档格式
- DL/T 2482—2022 消弧线圈并联低电阻接地装置技术条件